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Conferência CIM2015 – 17th International Congresso of Metrology

21 Set 2015 a 24 Set 2015

A Conferência CIM2015 – 17th International Congresso of Metrology vai ocorrer entre os dias 21 e 24 de setembro em Paris, França.

O evento tem como objetivos: i) explorar os desenvolvimentos mais recentes nas técnicas de medição e a sua aplicação industrial e ii) reconhecer o valor acrescentado dos métodos de medição como uma função de garantia de qualidade de produtos e processos.

Durante os três dias de conferência será possível descobrir o contexto atual das tecnologias de medição, explorar os desafios industriais e descobrir as últimas inovações para aumentar o desempenho através:

  • De um programa da conferência variado e sessões de discussão;
  • Uma zona de exposição com a apresentação de soluções inovadoras;
  • Visitas a locais técnicos para a exploração de boas práticas industriais. 

Nas sessões de discussão serão debatidos os seguintes temas:
  • A metrologia do futuro;
  • Requisitos da ISO 9001:2015;
  • Segurança e metrologia na indústria alimentar;
  • Contratualização a terceiros de processo de metrologia;
  • Soft metrology;
  • Nanotecnologias;
  • Metrologia na produção de fármacos e cuidados de saúde.


Prazo limite para a submissão de resumos: 16/01/2015.

Para obter mais informação, consulte o website da conferência.

Local
-
Paris
Porte de Versailles

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